利用手続きは簡単。民間企業の方もぜひご活用ください。

ナノテクプラットフォームをご利用いただく際は、年度末あるいは課題が終わったときに報告書を出していただいております。報告書と言っても、企業秘密の部分まで深く立ち入るような厳しい条件ではありません。サンプルの機密性が高くて外部での測定はどうしても難しいという場合は、成果非公開という利用方法もあります。料金は一桁高くなってしまいますが、元々の利用料金が1日1万円程度とお手頃な価格設定ですので、一桁高い料金でも十分に利用価値はあると思います。

装置の利用者は、NIMS内部の方と外部の方が半々で、外部から来られる方は民間の方も大学の方もいらっしゃいます。なかには、北海道や仙台、四国などの遠方から来られる方もいらっしゃいます。当施設としては、高額装置を持つことが難しい中小企業を主なターゲットとしており、とくに産業への貢献につなげて行くことを目指しています。民間企業の方も歓迎していますので、遠慮なくご利用いただきたいです。

ユーザーの声をご紹介いたします。

筑波大学 数理物質系 物理学域 神田晶申 准教授

「ラマンイメージングにかかる時間が極めて短いので大変助かっています。主に、グラフェンの局所格子ひずみを制御する実験に使用させていただいておりますが、数10ミクロン角のグラフェンの精密なラマンイメージを数10分で取得できます。また、解析ソフトも優れていますので、他社製装置を使った場合に比べて研究がはるかに効率的に進められているのではないかと思います。」
発表論文

Kenta Katakura et al.,
“Surface morphology of multilayer graphene synthesized directly on silicon dioxide”
Phys. Status Solidi C, 10, 1628?1631 (2013).

Hikari Tomori et al.,
“Introducing Nonuniform Strain to Graphene Using Dielectric Nanopillars”
Appl. Phys. Express 4, 075102 (2011).

筑波大学 数理物質科学研究科 電子・物理工学専攻 村上勝久 准教授

「我々の研究グループでは、グラフェンの層数選択や結晶性評価にナノフォトンのレーザーラマン顕微鏡を使用しております。イメージングのスピードが速く一度に多くの試料を評価できるので、今では我々の研究には欠かせない装置となっています。GUIも分かりやすく、初めて使用する学生でも一度の講習ですぐに使用できました。」
発表論文

K. Murakami, T. Kadowaki, and J. Fujita,
“Damage and strain in single-layer graphene induced by very-low-energy electron-beam irradiation”
Appl. Phys. Lett. 102, 043111 (2103)

食品メーカー 研究員

「ナノフォトンのレーザーラマン顕微鏡は、ラインスキャンにより高速でのイメージングが可能であり、熱に弱い試料もダメージが少ない状態で計測できました。操作も簡便で、判りやすいマニュアルも整備されており、すぐに操作に慣れました。測定時間も短く、1日の作業で多くのデータを取得できるところが魅力です。」